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MX 70x 系列

高分辨率的晶圆厚度和表面轮廓测量仪

MX 70x 系列用来测量硅片的厚度,曲巧度,粗糙度和纳米结构。

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高分辨率的晶圆厚度和表面轮廓测量仪

MX 70x 系列用来测量硅片的厚度,曲巧度,粗糙度和纳米结构。

MX 70x 型号:

MX型号 晶圆尺寸[mm]
MX 7012 300