MX 70x 系列

高分辨率的晶圆厚度和表面轮廓测量仪

MX 70x 系列用来测量硅片的厚度，曲巧度，粗糙度和纳米结构。

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高分辨率的晶圆厚度和表面轮廓测量仪

MX 70x 系列用来测量硅片的厚度，曲巧度，粗糙度和纳米结构。

MX 70x 型号：

MX型号	晶圆尺寸[mm]
MX 7012	300

Hywing Technology Ltd.

上海盈超科技有限公司

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